Vo Trung Phúc

Publikace ASEP

Označit vše / Zobrazit vše / Zrušit označení

Nalezeno záznamů: 3

0639006 - FZÚ 2026 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Chaiyachad, S. - Vo, Trung Phúc - Jindata, W. - Singsen, S. - Eknapakul, T. - Jaisuk, C. - Le Fevre, P. - Bertran, F. - Lu, D.-H. - Huang, Y. - Nakajima, H. - Liewrian, W. - Fongkaew, I. - Minár, J. - Meevasana, W.
Emergence of a bandgap in nano-scale graphite: a computational and experimental study.
Applied Surface Science. Roč. 708, Nov (2025), č. článku 163756. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA23-04746S
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: HOPG * ARPES * Raman spectroscopy * DFT calculations * band-gap opening
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 6.9, rok: 2024 ; AIS: 0.917, rok: 2024
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0369527

0601377 - FZÚ 2025 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Vo, Trung Phúc - Tkach, O. - Tricot, S. - Sébilleau, D. - Winkelmann, A. - Fedchenko, O. - Lytvynenko, Y. - Vasilyev, D. - Elmers, H.J. - Schönhense, G. - Minár, J.
Analyzing core level photoelectrons by diffraction and circular dichroism via means of first-principle scattering calculations.
AIP Conference Proceedings. Vol. 3251. Melville: American Institute of Physics, 2024 - (Sitek, J.; Vajda, J.; Jamnický, I.), č. článku 020005. ISBN 978-0-7354-5060-8. ISSN 0094-243X.
[International Conference Applied Physics of Condensed Matter (APCOM 2024) /29./. Štrbské Pleso (SK), 19.06.2024-21.06.2024]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA23-04746S
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: Hard X-rays * dichroism * electron diffraction * material characterization methods * spectroscopy
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
https://pubs.aip.org/aip/acp/article/3251/1/020005/3316900/Analyzing-core-level-photoelectrons-by-diffraction
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0358537

0638984 - FZÚ 2026 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Vo, Trung Phúc - Tkach, O. - Tricot, S. - Sébilleau, D. - Braun, J. - Pulkkinen, A. - Winkelmann, A. - Fedchenko, O. - Lytvynenko, Y. - Vasilyev, D. - Elmers, H.J. - Schönhense, G. - Minár, J.
Layered multiple scattering approach to Hard X-ray photoelectron diffraction: theory and application.
npj Computational Materials. Roč. 11, č. 1 (2025), č. článku 159. ISSN 2057-3960. E-ISSN 2057-3960
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA23-04746S
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: auger electron diffraction * local atomic structure * circular dichroism * core level * angular distributions * valence band
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 11.9, rok: 2024 ; AIS: 3.165, rok: 2024
Způsob publikování: Open access
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0369515