0599726 - ÚFE 2025 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Palounek, David - Vala, Milan - Bujak, Lukasz - Kopal, Ivan - Jiříková, Kateřina - Shaidiuk, Yevhenii - Piliarik, Marek
Surpassing the Diffraction Limit in Label-Free Optical Microscopy.
ACS Photonics. Roč. 11, č. 10 (2024), s. 3907-3921. ISSN 2330-4022
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA23-07703S; GA MŠMT(CZ) EH22_008/0004596
AV ČR(CZ) CNRS-23-08
Bilaterální spolupráce
Institucionální podpora: RVO:67985882
Klíčová slova: super-resolution microscopy * interferometric scatteringmicroscopy * iSCAT * coherent Raman scattering * label-free microscopy
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 6.7, rok: 2024 ; AIS: 1.66, rok: 2024
Způsob publikování: Omezený přístup
https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsphotonics.4c00745
Piliarik, Marek
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0360452