Krutil Vojtěch

RIV - aktuální sběr

RIV ID 1042772

Označit vše / Zobrazit vše / Zrušit označení

Nalezeno záznamů: 2

Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)

0618877 - ÚPT 2025 RIV FR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Frolec, Jiří - Králík, Tomáš - Krutil, Vojtěch
Impact of contamination of a metallic surface on its thermal absorptivity.
Refrigeration Science and Technology. In: Cryogenics 2023. The 17th IIR International Conference, Dresden, Germany, April 25-28, 2023. Proceedings. Paris: International Institute of Refrigeration, 2023, s. 59-64. ISBN 978-2-36215-053-1. ISSN 0151-1637.
[Cryogenics 2023. IIR International Conference /17./. Dresden (DE), 25.04.2023-28.04.2023]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Heat Transfer * Thermal Radiation * Cryogenics * Contamination * Cryostat Design
Obor OECD: Thermodynamics
https://iifiir.org/fr/fridoc/impact-de-la-contamination-d-une-surface-metallique-sur-son-147065
Frolec, Jiří
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0365653

Prototyp, funkční vzorek

0604051 - ÚPT 2025 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Láznička, Tomáš - Krzyžánek, Vladislav - Urban, Pavel - Krutil, Vojtěch - Hrubanová, Kamila
Kryo-stolek pro kvantitativní zobrazování.
[Cryo-table for quantitative imaging.]
Interní kód: APL-2024-26 ; 2024
Technické parametry: Technické řešení zahrnuje několik klíčových komponent. Kryogenní stolek je kompatibilní se systémem držáku vzorků Leica Microsystems. Ten je termálně izolovaný od mikroskopického posuvného mechanismu pomocí distančních členů s minimálním tepelným přenosem. Dále je flexibilně spojen k teplovodivému palci, což umožní pohyb stolku ve všech třech osách, naklápění a omezenou rotaci. Flexibilně je také k teplovodivému palci připojen anti-kontaminační štít, který obklopuje držák vzorku umístěný na kryogenním stolku a slouží k minimalizaci kontaminace dopadající na povrch daného vzorku. Teplovodivý palec je na druhé straně připojen k Dewarově nádobě, která slouží jako reservoár kapalného dusíku pro chlazení celého systému a která je připojena k vakuové komoře mikroskopu. Kryo stolek, anti-kontaminační štít, teplovodivý palec i dno Dewarovy nádoby jsou vybaveny teplotními senzory (a odporovým tělesem pro vyhřívání v případě kryo stolku), které umožňují přesnou kontrolu teploty během celého procesu.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Vladislav Krzyžánek, Ph.D., krzyzanek@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryo-table * electron microscopy * FIB-SEM * cryo-FIB-SEM
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0361385