RIV - aktuální sběr
0588543 - ÚPT 2025 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Materna Mikmeková, Eliška - Materna, J. - Konvalina, Ivo - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona - Asefa, T.
A soft touch with electron beams: Digging out structural information of nanomaterials with advanced scanning low energy electron microscopy coupled with deep learning.
Ultramicroscopy. Roč. 262, August (2024), č. článku 113965. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-34286S
AV ČR(CZ) LQ100652201; AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
Prémie Lumina quaeruntur; StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Scanning low energy electron microscopy * Deep learning * Mesoporous silica
Obor OECD: Materials engineering
Impakt faktor: 2, rok: 2024 ; AIS: 0.625, rok: 2024
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399124000445
Konvalina, Ivo
Trvalý odkaz:
https://hdl.handle.net/11104/0355407
0599129 - ÚPT 2025 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Šárka - Zouhar, Martin - Čermák, Jan - Ambrož, Ondřej - Jozefovič, Patrik - Konvalina, Ivo - Materna Mikmeková, Eliška - Materna, J.
Deep Learning-Powered Optical Microscopy for Steel Research.
Machine Learning and Knowledge Extraction. Roč. 6, č. 3 (2024), s. 1579-1596. ISSN 2504-4990. E-ISSN 2504-4990
AV ČR(CZ) LQ100652201
Prémie Lumina quaeruntur
Výzkumná infrastruktura: e-INFRA CZ II - 90254
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: machine learning * steel surface * multimodal microscopy * light optical microscopy * scanning electron microscopy
Obor OECD: Materials engineering
Impakt faktor: 6, rok: 2024 ; AIS: 1.195, rok: 2024
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2504-4990/6/3/76
Mikmeková, Šárka
Trvalý odkaz:
https://hdl.handle.net/11104/0359626
0603849 - ÚPT 2025 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Materna Mikmeková, Eliška - Fořt, Tomáš - Paták, Aleš - Souček, P. - Rusnačko, J. - Vašina, R.
Prototyp optického prvku č. 2 s povrchovou úpravou.
[Prototype of optical element #2 with surface treatment.]
Interní kód: APL-2024-16 ; 2024
Technické parametry: POLYETERETERKETON (PEEK) byl použit na výrobu optické části tubusu pro skenovací elektronový mikroskop. Optický prvek byl vylepšen nanesením tenké vodivé vrstvy pomocí magnetronového naprašování, která zaručí výbornou vodivost a čistotu, kterou vyžaduje jeho umístění ve vakuu.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Eliška Materna Mikmeková, Ph.D., MBA, eliska@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: optical elements * PEEK * SEM * magnetron sputtering
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý odkaz:
https://hdl.handle.net/11104/0361147
0603707 - ÚPT 2025 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Průcha, Lukáš - Piňos, Jakub - Sýkora, Jiří - Materna Mikmeková, Eliška - Radlička, Tomáš
Držák pro produkci, exfoliaci a přenos grafenu.
[Holder for production, exfoliation, and transfer of graphene.]
Interní kód: APL-2024-20 ; 2024
Technické parametry: Funkční vzorek se skládá z keramického držáku na produkci a přenos grafenu.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem interního využití mezi partnery projektu. Kontakt: Ing. Lukáš Průcha, Ph.D, prucha@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: CVD * graphene * growth * transfer * pad * ceramics
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý odkaz:
https://hdl.handle.net/11104/0361015
0603713 - ÚPT 2025 RIV CZ cze Z - Poloprovoz, ověřená technologie, odrůda/plemeno
Průcha, Lukáš - Materna Mikmeková, Eliška - Radlička, Tomáš
Technologie produkce grafénové fólie.
[Graphene foil production technology.]
Interní kód: APL-2024-21 ; 2024
Technické parametry: Technologie výroby a transferu grafénových membrán pro účely elektronové mikroskopie.
Ekonomické parametry: Ověřená technologie realizovaná při řešení grantu TN02000020//022 s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Lukáš Průcha, Ph.D, prucha@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene foil * electron microscopy * free-standing graphene * aperture
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý odkaz:
https://hdl.handle.net/11104/0361025