0583079 - ÚPT 2025 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Allaham, Mohammad M. - Dallaev, R. - Burda, Daniel - Sobola, Dinara - Nebojsa, A. - Knápek, Alexandr - Mousa, M. S. - Kolařík, Vladimír
Energy gap measurements based on enhanced absorption coefficient calculation from transmittance and reflectance raw data.
Physica Scripta. Roč. 99, č. 2 (2024), č. článku 025952. ISSN 0031-8949. E-ISSN 1402-4896
Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab - 90110
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:68081723
Klíčová slova: absorption coefficient * energy gap * tauc-plot * urbach energy * charge transition
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Impakt faktor: 2.6, rok: 2024 ; AIS: 0.353, rok: 2024
Způsob publikování: Open access
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1402-4896/ad1cb8
Allaham, Mohammad M.
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0354133

0602560 - ÚPT 2025 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Krátký, Stanislav - Chlumská, Jana - Horáček, Miroslav - Kolařík, Vladimír - Zavřel, J. - Lobaz, P. - Škereň, M. - Doleček, Roman - Václavík, Jan - Mokrý, Pavel
Pole mikro-čoček.
[Micro lens array.]
Interní kód: APL–2024-10 ; 2024
Technické parametry: Plastová fólie nesoucí vrstvu UV tvrditelného polymeru obsahující pole mikro-čoček, které omezují vyzařování světla LED zdrojů do vysokých úhlů. Pole mikro-čoček bylo připraveno pomocí elektronové litografie a následně se struktura přenesla do UV tvrditelného polymeru pomocí nanoimprint litografie.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Stanislav Krátký, Ph.D., kratky@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:61389021
Klíčová slova: e-beam lithography * reactive ion etching * two-photon lithography * diamond ruling * nanoimprint lithography * LED lights * UGR
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0359783

0601500 - ÚPT 2025 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Meluzín, Petr - Krátký, Stanislav - Kolařík, Vladimír - Horáček, Miroslav - Knápek, Alexandr
Difraktivní opticky variabilní obrazový prvek pro zajištění jízdních dokladů.
[Diffractive optically variable image devices for securing travel documents.]
Interní kód: APL–2024-09 ; 2024
Technické parametry: Difraktivní opticky variabilní obrazový prvek ve formě reliéfní struktury v polymerním matriálu na křemíkové podložce jehož originace je provedena zápisem pomocí elektronové litografie obsahující difrakční opticky variabilní obrazové prvky typu struktur s krátkou a velmi krátkou periodou, neperiodické struktury s variabilní hloubkou, blejzované struktury, mikročočky a další zajišťovací prvky v mikro a nano oblasti.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Miroslav Horáček, Ph.D., mih@isibrno.cz.
Grant CEP: GA MV(CZ) VK01010026
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: security * diffraction * optically variable image element * e-beam writer * periodic * non-periodic * blazed * microlens
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0358667

0601730 - ÚPT 2025 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Horáček, Miroslav - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Meluzín, Petr - Košelová, Zuzana - Chlumská, Jana - Kolařík, Vladimír - Knápek, Alexandr
SMV-2024-03: Vývoj testovacích preparátů pro REM.
[SMV-2024-03: Development of test specimens for SEM.]
Brno: TESCAN GROUP, a.s., 2024. 4 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: relief structure * e-beam lithography * silicon etching * microlithography
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0359045
Do RIV jako smluvní výzkum