0579808 - FZÚ 2025 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Kuliček, J. - Marek, M. - Kumar, N. - Fait, Jan - Potocký, Š. - Stehlík, Štěpán - Kromka, Alexander - Rezek, B.
Kelvin probe characterization of nanocrystalline diamond films with SiV centers as function of thickness.
Physica Status Solidi A. Roč. 221, č. 8 (2024), č. článku 2300459. ISSN 1862-6300. E-ISSN 1862-6319
Grant CEP: GA ČR(CZ) GF23-04322L
AV ČR(CZ) LQ100102001
Prémie Lumina quaeruntur
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: Kelvin probe * nanodiamond films * silicon vacancy (SiV) centers * thicknesses * work functions
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 1.9, rok: 2024 ; AIS: 0.323, rok: 2024
Způsob publikování: Open access
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0353241