0597917 - ÚPT 2025 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Knápek, Alexandr - Allaham, Mohammad M. - Košelová, Zuzana - Burda, Daniel - Podstránský, Jáchym - Mousa, M. S. - Sobola, Dinara
Comparative analysis of surface layer functionality in STM and AFM probes: Effects of coating on emission characteristics.
Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. Roč. 75, č. 4 (2024), s. 268-274. ISSN 1335-3632. E-ISSN 1339-309X
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW03010504
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning probe microscopy * field emission characteristics * probe coating * STM tungsten-graphite probes * Akiyama-gold cathodes
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 1.2, rok: 2024 ; AIS: 0.176, rok: 2024
Způsob publikování: Open access
https://sciendo.com/article/10.2478/jee-2024-0033
Knápek, Alexandr
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0355700

0617510 - ÚPT 2025 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Podstránský, Jáchym - Hausladen, M. - Zlámal, J. - Knápek, Alexandr - Schreiner, R.
Single Column Multiple Electron Beam Imaging from N-type Silicon.
International Vacuum Nanoelectronics Conference. In: 2024 37th International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC 2024. New York: IEEE, 2024, s. 148-149. ISBN 979-8-3503-7977-8. ISSN 2164-2370.
[International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC) /37./. Brno (CZ), 15.07.2024-19.07.2024]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electrons * field emission * semiconductors * COMSOL multiphysics
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
https://ieeexplore.ieee.org/document/10652470
Podstránský, Jáchym
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0364400