Publikace ASEP
0604707 - ÚPT 2026 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Jílek, Zvonimír - Radlička, Tomáš - Krzyžánek, Vladislav
Simulation Study of Low-Dose 4D-STEM Phase Contrast Techniques at the Nanoscale in SEM.
Nanomaterials. Roč. 15, č. 1 (2025), č. článku 70. ISSN 2079-4991. E-ISSN 2079-4991
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA21-13541S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * phase contrast * STEM * SEM * 4D-STEM * ptychography * ePIE * iCOM * low dose * carbon nanotubes
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 4.3, rok: 2024 ; AIS: 0.674, rok: 2024
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2079-4991/15/1/70
Radlička, Tomáš
Trvalý odkaz:
https://hdl.handle.net/11104/0372832
0618628 - ÚPT 2026 RIV FR eng J - Článek v odborném periodiku
Martis, J. - Plotkin-Swing, B. - Hotz, M. T. - Dellby, N. - Lovejoy, T. C. - Quillin, S. C. - Radlička, Tomáš - Su, C. - Algara-Siller, G. - Křivánek, O. L.
Advances in atomic resolution secondary electron imaging.
European Physical Journal-Applied Physics. Roč. 100, 20 March (2025), č. článku 9. ISSN 1286-0042. E-ISSN 1286-0050
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA21-13541S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: history * energy * Atomic-resolution * secondary-electron-imaging * multi-modal-imaging * 2D-materials
Impakt faktor: 0.9, rok: 2024 ; AIS: 0.115, rok: 2024
Způsob publikování: Open access
https://www.epjap.org/articles/epjap/full_html/2025/01/ap20240165/ap20240165.html
Martis, J. Křivánek, O. L.
Trvalý odkaz:
https://hdl.handle.net/11104/0372880