Nápověda

Müllerová Ilona

Publikace ASEP

RIV ID 7708017
Označit vše / Zobrazit všechny roky / Zrušit označení

Označit vše / Zobrazit vše / Zrušit označení

Nalezeno záznamů: 4

0551125 - ÚPT 2023 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Zouhar, Martin - Müllerová, Ilona - Fořt, Tomáš - Unčovský, M. - Materna Mikmeková, Eliška
Quantification of stem images in high resolution sem for segmented and pixelated detectors.
Nanomaterials. Roč. 12, č. 1 (2022), č. článku 71. ISSN 2079-4991. E-ISSN 2079-4991
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
AV ČR(CZ) StrategieAV21/6
StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM segmented detector * pixelated detector * scanning electron microscopy * Monte Carlo simulations * ray tracing * quantitative imaging
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 5.3, rok: 2022 ; AIS: 0.712, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2079-4991/12/1/71
Konvalina, Ivo
Trvalý odkaz: http://hdl.handle.net/11104/0326569

0564387 - ÚPT 2023 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Lee, S. - Watanabe, S. - Tsuchiya, T. - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona - Ono, Y. - Takaguchi, Y. - Ikeno, S. - Matsuda, K.
Fabrication of Al-Based Composite Extruded Plates Containing Cellulose Nanofibers and Their Microstructure and Mechanical Properties.
Materials Transactions. Roč. 63, č. 11 (2022), s. 1590-1596. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: aluminum * cellulose nanofiber * composite materials * extrusion * microstructure
Obor OECD: Materials engineering
Impakt faktor: 1.2, rok: 2022 ; AIS: 0.213, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://www.jstage.jst.go.jp/article/matertrans/63/11/63_MT-M2022107/_article
Matsuda, K.
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0336063

0588543 - ÚPT 2025 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Materna Mikmeková, Eliška - Materna, J. - Konvalina, Ivo - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona - Asefa, T.
A soft touch with electron beams: Digging out structural information of nanomaterials with advanced scanning low energy electron microscopy coupled with deep learning.
Ultramicroscopy. Roč. 262, August (2024), č. článku 113965. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-34286S
AV ČR(CZ) LQ100652201; AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
Prémie Lumina quaeruntur; StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Scanning low energy electron microscopy * Deep learning * Mesoporous silica
Obor OECD: Materials engineering
Impakt faktor: 2, rok: 2024 ; AIS: 0.625, rok: 2024
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399124000445
Konvalina, Ivo
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0355407

0619149 - ÚPT 2026 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Paták, Aleš - Zouhar, Martin - Konvalina, Ivo - Materna Mikmeková, Eliška - Průcha, Lukáš - Müllerová, Ilona - Charvátová Campbell, A. - Valtr, M. - Horák, M. - Křápek, V. - Krasovskii, E.
Ab initio study of angle-resolved electron reflection spectroscopy of few-layer graphene.
Physical Review B. Roč. 111, č. 12 (2025), č. článku 125113. ISSN 2469-9950. E-ISSN 2469-9969
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-34286S
Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab II - 90251
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Angle-Resolved Reflected-Electron Spectroscopy (ARRES) * Low-Energy Electron Microscopy (LEEM) * Electron Reflectivity * Electron Energy-Loss Spectroscopy (EELS) * Inelastic Mean Free Path (IMFP) * Optical Potential * Few-Layer Graphene * Graphene Stacking * Twisted Bilayer Graphene (TBG) * Unoccupied Band Structure * First-Principles Calculations
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 3.7, rok: 2024 ; AIS: 0.877, rok: 2024
Způsob publikování: Omezený přístup
https://journals.aps.org/prb/abstract/10.1103/PhysRevB.111.125113
Paták, Aleš
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0372846