Nápověda

Konvalina Ivo

Publikace ASEP

RIV ID 9612653
Označit vše / Zobrazit všechny roky / Zrušit označení

Označit vše / Zobrazit vše / Zrušit označení

Nalezeno záznamů: 6

0551125 - ÚPT 2023 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Zouhar, Martin - Müllerová, Ilona - Fořt, Tomáš - Unčovský, M. - Materna Mikmeková, Eliška
Quantification of stem images in high resolution sem for segmented and pixelated detectors.
Nanomaterials. Roč. 12, č. 1 (2022), č. článku 71. ISSN 2079-4991. E-ISSN 2079-4991
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
AV ČR(CZ) StrategieAV21/6
StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM segmented detector * pixelated detector * scanning electron microscopy * Monte Carlo simulations * ray tracing * quantitative imaging
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 5.3, rok: 2022 ; AIS: 0.712, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2079-4991/12/1/71
Konvalina, Ivo
Trvalý odkaz: http://hdl.handle.net/11104/0326569

0588543 - ÚPT 2025 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Materna Mikmeková, Eliška - Materna, J. - Konvalina, Ivo - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona - Asefa, T.
A soft touch with electron beams: Digging out structural information of nanomaterials with advanced scanning low energy electron microscopy coupled with deep learning.
Ultramicroscopy. Roč. 262, August (2024), č. článku 113965. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-34286S
AV ČR(CZ) LQ100652201; AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
Prémie Lumina quaeruntur; StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Scanning low energy electron microscopy * Deep learning * Mesoporous silica
Obor OECD: Materials engineering
Impakt faktor: 2, rok: 2024 ; AIS: 0.625, rok: 2024
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399124000445
Konvalina, Ivo
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0355407

0599129 - ÚPT 2025 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Šárka - Zouhar, Martin - Čermák, Jan - Ambrož, Ondřej - Jozefovič, Patrik - Konvalina, Ivo - Materna Mikmeková, Eliška - Materna, J.
Deep Learning-Powered Optical Microscopy for Steel Research.
Machine Learning and Knowledge Extraction. Roč. 6, č. 3 (2024), s. 1579-1596. ISSN 2504-4990. E-ISSN 2504-4990
AV ČR(CZ) LQ100652201
Prémie Lumina quaeruntur
Výzkumná infrastruktura: e-INFRA CZ II - 90254
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: machine learning * steel surface * multimodal microscopy * light optical microscopy * scanning electron microscopy
Obor OECD: Materials engineering
Impakt faktor: 6, rok: 2024 ; AIS: 1.195, rok: 2024
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2504-4990/6/3/76
Mikmeková, Šárka
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0359626

0619149 - ÚPT 2026 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Paták, Aleš - Zouhar, Martin - Konvalina, Ivo - Materna Mikmeková, Eliška - Průcha, Lukáš - Müllerová, Ilona - Charvátová Campbell, A. - Valtr, M. - Horák, M. - Křápek, V. - Krasovskii, E.
Ab initio study of angle-resolved electron reflection spectroscopy of few-layer graphene.
Physical Review B. Roč. 111, č. 12 (2025), č. článku 125113. ISSN 2469-9950. E-ISSN 2469-9969
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-34286S
Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab II - 90251
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Angle-Resolved Reflected-Electron Spectroscopy (ARRES) * Low-Energy Electron Microscopy (LEEM) * Electron Reflectivity * Electron Energy-Loss Spectroscopy (EELS) * Inelastic Mean Free Path (IMFP) * Optical Potential * Few-Layer Graphene * Graphene Stacking * Twisted Bilayer Graphene (TBG) * Unoccupied Band Structure * First-Principles Calculations
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 3.7, rok: 2024 ; AIS: 0.877, rok: 2024
Způsob publikování: Omezený přístup
https://journals.aps.org/prb/abstract/10.1103/PhysRevB.111.125113
Paták, Aleš
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0372846

0588163 - ÚPT 2025 RIV JO eng J - Článek v odborném periodiku
Pokorná, Zuzana - Knápek, Alexandr - Mika, Filip - Chlumská, Jana - Konvalina, Ivo - Walker, C. G. H. - Jaber, A. M. D.
Determination of Crystallographic Information by Means of Very Low Energy Electron Imaging.
Jordan Journal of Physics. Roč. 17, č. 2 (2024), s. 233-244. ISSN 1994-7607. E-ISSN 1994-7615
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SLEEM * LEEM * Very low energy electrons * Crystallographic orientation
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 0.6, rok: 2024 ; AIS: 0.072, rok: 2024
Způsob publikování: Omezený přístup
https://jjp.yu.edu.jo/index.php/jjp/article/view/336
Knápek, Alexandr
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0355166

0599077 - ÚPT 2025 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Segui, S. - Gervasoni, J. - Arista, N. - Konvalina, Ivo - Werner, W. S. M.
Exploring the Dielectric Model in the Limit of Low-Energy Electrons Interacting With Graphene.
Surface and Interface Analysis. Roč. 57, č. 1 (2025), s. 42-47. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-34286S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: dielectric formalism * EELS * graphene * time-of-flight spectroscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 1.8, rok: 2024 ; AIS: 0.305, rok: 2024
Způsob publikování: Omezený přístup
https://analyticalsciencejournals.onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.7359
Segui, S.
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0359621