Lukeš Jakub

0567122 - ÚFP 2023 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Hlubuček, Jiří - Lukeš, Jakub - Václavík, Jan - Žídek, Karel
Differential coded aperture single-snapshot spectral imaging.
Optics Letters. Roč. 47, č. 9 (2022), s. 2342-2345. ISSN 0146-9592. E-ISSN 1539-4794
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008390
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: spectral imaging * differential coding * CASSI
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 3.6, rok: 2022 ; AIS: 0.813, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://opg.optica.org/ol/abstract.cfm?uri=ol-47-9-2342
Hlubuček, Jiří
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0338384

0605288 - ÚFP 2025 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lukeš, Jakub - Hájková, Věra - Kanclíř, Vít - Tauchmanová, Martina - Žídek, Karel
Damage detection in thin films using second harmonic generation.
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. Bellingham: The International Society for Optical Engineering, 2024, č. článku 130200F. ISBN 978-1-5106-7359-5.
[Conference on Advances in Optical Thin Films. Strasbourg (FR), 08.04.2024-11.04.2024]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-09296S; GA MŠMT(CZ) EH22_008/0004573
Institucionální podpora: RVO:61389021 ; RVO:68378271
Klíčová slova: Damage detection * lidt * shg * Thin films
Obor OECD: Coating and films; Optics (including laser optics and quantum optics) (FZU-D)
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/13020/3017415/Damage-detection-in-thin-films-using-second-harmonic-generation/10.1117/12.3017415.short
Lukeš, Jakub
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0362933

0578067 - ÚFP 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Lukeš, Jakub - Kanclíř, Vít - Václavík, Jan - Melich, Radek - Fuchs, U. - Žídek, Karel
Optically modified second harmonic generation in silicon oxynitride thin films via local layer heating.
Scientific Reports. Roč. 13, č. 1 (2023), č. článku 8658. ISSN 2045-2322. E-ISSN 2045-2322
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008390; GA ČR(CZ) GA23-08020S
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: silicon nitride * strong second harmonic generation * thin films
Obor OECD: Coating and films
Impakt faktor: 3.8, rok: 2023 ; AIS: 1.061, rok: 2023
Způsob publikování: Open access
https://www.nature.com/articles/s41598-023-35593-8
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0347092

0619295 - ÚFP 2026 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Lukeš, Jakub - Hájková, Věra - Hlubučková, Martina - Kanclíř, Vít - Žídek, Karel
Sensitive detection of Si3N4 thin-film defects via second harmonic generation microscopy.
Optics Letters. Roč. 50, č. 6 (2025), s. 1885-1888. ISSN 0146-9592. E-ISSN 1539-4794
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EH22_008/0004573
Institucionální podpora: RVO:61389021 ; RVO:68378271
Klíčová slova: laser irradiation * optical systems * SHG mapping
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics); Fluids and plasma physics (including surface physics) (FZU-D)
Impakt faktor: 3.3, rok: 2024 ; AIS: 0.667, rok: 2024
Způsob publikování: Open access
https://opg.optica.org/ol/fulltext.cfm?uri=ol-50-6-1885&id=568913
Lukeš, Jakub
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0366046