Nápověda

Gordeev Ivan

Publikace ASEP

Označit vše / Zobrazit všechny roky / Zrušit označení

Označit vše / Zobrazit vše / Zrušit označení

Nalezeno záznamů: 5

0553463 - FZÚ 2023 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Košutová, T. - Horák, L. - Pleskunov, P. - Hanuš, J. - Nikitin, D. - Kúš, P. - Cieslar, M. - Gordeev, Ivan - Burazer, S. - Choukourov, A. - Dopita, M.
Thermally-driven morphogenesis of niobium nanoparticles as witnessed by in-situ x-ray scattering.
Materials Chemistry and Physics. Roč. 277, Feb. (2022), č. článku 125466. ISSN 0254-0584. E-ISSN 1879-3312
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: niobium nanoparticles * small angle x-ray scattering * in-situ x-ray diffraction * niobium pentoxide * thermal evolution
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 4.6, rok: 2022 ; AIS: 0.554, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.matchemphys.2021.125466
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0339186

0564922 - FZÚ 2023 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Pleskunov, P. - Prysiazhnyi, V. - Nikitin, D. - Košutová, T. - Cieslar, M. - Gordeev, Ivan - Krtouš, Z. - Ali-Ogly, S. - Šomvársky, J. - Protsak, M. - Biliak, K. - Kishenina, K. - Bednařík, A. - Dopita, M. - Preisler, J. - Choukourov, A.
Magnetron-sputtered niobium nanoparticles for molecular imaging of brain tissues through surface-assisted laser desorption/ionization mass spectrometry.
ACS Applied Nano Materials. Roč. 5, č. 9 (2022), s. 12865-12875. ISSN 2574-0970. E-ISSN 2574-0970
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: magnetron sputtering * niobium * nanoparticles * biomolecules detection * biological interface * SALDI MS
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
Impakt faktor: 5.9, rok: 2022 ; AIS: 0.973, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1021/acsanm.2c02734
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0336498

0638162 - FZÚ 2026 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Pleskunov, P. - Protsak, M. - Krtouš, Z. - Košutová, T. - Tosca, M. - Biliak, K. - Červenková, V. - Nikitin, D. - Hanuš, J. - Cieslar, M. - Gordeev, Ivan - Dopita, M. - Vorochta, M. - Kousal, J. - Martinů, L. - Choukourov, A.
Refractory plasmonics of reactively sputtered hafnium nitride nanoparticles: pushing limits.
Advanced Optical Materials. Roč. 12, č. 13 (2024), č. článku 2302715. ISSN 2195-1071. E-ISSN 2195-1071
Výzkumná infrastruktura: e-INFRA CZ II - 90254
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: hafnium nitride * magnetron sputtering * nanoparticles * refractory plasmonics * thermal stability
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Impakt faktor: 7.2, rok: 2024 ; AIS: 1.646, rok: 2024
Způsob publikování: Open access

Pleskunov, P. Choukourov, A.
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0368905

0562785 - FZÚ 2023 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Romanyuk, Olexandr - Paszuk, A. - Gordeev, Ivan - Wilks, R.G. - Ueda, S. - Hartmann, C. - Félix, R. - Bär, M. - Schlueter, C. - Gloskovskii, A. - Bartoš, Igor - Nandy, M. - Houdková, Jana - Jiříček, Petr - Jaegermann, W. - Hofmann, J.P. - Hannappel, T.
Combining advanced photoelectron spectroscopy approaches to analyse deeply buried GaP(As)/Si(1 0 0) interfaces: Interfacial chemical states and complete band energy diagrams.
Applied Surface Science. Roč. 605, Dec. (2022), č. článku 154630. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760; GA ČR GC18-06970J
OP VVV - SOLID21(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: XPS * GCIB * HAXPES * MOVPE * valence band offset * GaP(As)/Si
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 6.7, rok: 2022 ; AIS: 0.867, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2022.154630
Romanyuk, Olexandr
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0334984

0570709 - FZÚ 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Romanyuk, Olexandr - Brault, J. - Gordeev, Ivan - Ukraintsev, Egor - Houdková, Jana - Jiříček, Petr
Depth profiling of AlN and Alx Ga 1−x N crystals by XPS using Al Kα and Ag Lα line excitation and Ar ion gas cluster ion source.
Journal of Applied Physics. Roč. 133, č. 3 (2023), č. článku 035301. ISSN 0021-8979. E-ISSN 1089-7550
Grant CEP: GA MŠMT LM2018110; GA MŠMT LM2023051; GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760
OP VVV - SOLID21(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: AlN * AlGaN * MBE * XPS * depth profiling * chemical shifts
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 2.7, rok: 2023 ; AIS: 0.579, rok: 2023
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1063/5.0125938
Romanyuk, Olexandr
Trvalý odkaz: https://hdl.handle.net/11104/0342044